热门关jian词: 崎岖温试验箱 可程式恒温恒湿试验箱 PCT高压加速老化试验机 无风烤箱 盐雾试验箱
产物特点:
用户可以审查他们希望审查任何数据
通过电脑清静便捷的远程会见
多层级的敏感数据掩护
便捷的法式入口、试验设置和产物监控
试验数据可以导出为Excel名堂并通过USB接口举行传输
HAST测试条件有130℃、85%RH、230KPa大气压,96hour测试时间。
HAST试验箱是使用高温(通常为130 ℃)、高相对湿度(约85%)、高峻气压力的条件(达3 atm)来加速潮气通过外部掩护质料或芯片引线周围的密封封装的试验装备,用于评估产物及质料在高温,高湿,高气压条件下对湿度的反抗能力,加速其失效历程。
gai试验检查芯片及其他质料恒久贮存条件下,高温顺时间对器件的影响。本规范适用于量产芯片验证测试阶段的HAST测试需求,仅针对非密封封装(塑料封装),带偏置(bHAST)和不带偏置(uHAST)的测试。
内胆接纳圆弧设计防止结露滴水,切合国家清静容器规范;
三道高温掩护装置、湿度用水断水掩护与电热断水空焚掩护、机台停机时自动扫除饱和蒸气压力、气念头构压力掩护等
压力值采现实感应侦测,确保温度、湿度及压力值准确度;
湿度自由选择饱和(100%R.H湿度)与非饱和(75%R.H湿度)自由设定;
支持电脑毗连,
使用USB数据、
曲线导出生涯
GB-T 2423.40-1997 电工电子产物情形试验 第2部门:试验要领 试验Cx:未饱和高压蒸汽恒定湿热
IEC 60068-2-66-1994 情形试验 第2-66部门:试验要领 试验Cx:稳态湿热(不饱合加压蒸汽)
JESD22-A100 循环温湿度偏置寿命
JESD22-A101 THB加速式温湿度及偏压测试
JESD22-A102 加速水汽反抗性-无偏置高压蒸煮
JESD22-A108 温度,偏置电压,以及事情寿命(IC寿命试验)
JESD22-A110 高加速温湿度应力试验(HAST)
JESD22-A118 加速水汽反抗性--无偏压HAST(无偏置电压未饱和高压蒸汽)
存案号:粤ICP备11018191号
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